|ワイドギャップ半導体|強誘電体|量子光学|非線形光学|集積エレクトロニクス|
装置使用をご希望の方はスタッフまでお気軽にご相談ください。
成膜設備(薄膜エピタキシャル成長・蒸着)
| 有機金属気相成長装置 | |
| AIXTRON, CCS 3x2 | |
| パルススパッタリング装置 | |
| ULVAC, MBC-1000S | |
| パルススパッタリング装置 | |
| Eiko, EW-Series | |
| パルスレーザー堆積装置 | |
| PASCAL, PA-C-PLMBE | |
| 反応性スパッタリング装置 | |
| PASCAL, PA-SP | |
| プラズマCVD装置 | |
| SAMCO, PD-10 | |
| RFスパッタリング装置 | |
| ANELVA, SPF-210H | |
| RF/DCスパッタリング装置 | |
| ANELVA, SPF-210S-FH | |
| 電子ビーム蒸着装置 | |
| ANELVA, L-043E-TN | |
| 抵抗加熱蒸着装置 | |
| ANELVA, JEE-450T | |
| クイックコータ | |
| SANYU, SVC-700TM | |
プロセス設備(接合・エッチング・デバイス形成)
| 表面活性化接合装置 | |
| アユミ工業, VE-08-07 | |
| 高圧印加装置 | |
| Trek, 609E-6など | |
| 反応性イオンエッチング装置 | |
| SAMCO, RIE-10N | |
| ECRイオンシャワー装置 | |
| SAMCO, EIS-200ER | |
| 研磨装置 | |
| 武蔵野電子, MA-200D・MA-150 | |
| ダイシング装置 | |
| DISCO, DAD323 | |
| ウエハスクライバ | |
| 0 | |
| UV・O3ストリッパ | |
| SAMCO, UV-1 | |
| ダイボンダ | |
| WEST-BOND, 7327C-79 | |
| ワイヤボンダ | |
| MARPET ENTERPRISES, 1204B | |
| ドラフトチャンバー(有機用) | |
| ヤマト, HITECHOOD, FRS-180 | |
| ドラフトチャンバー(酸・アルカリ用) | |
| ヤマト, HITECHOOD, FRS-180 | |
リソグラフィー設備(電子線リソ・フォトリソ)
| 電子線描画装置 | |
| エリオニクス, ELS-3700 | |
| マスクアライナ | |
| ミカサ,MA-10 | |
| スピンコータ | |
| ミカサ,MS-A100・1H-DXII | |
| コンベクションオーブン | |
| YAMATO DX300・Masuda SA312 | |
熱処理設備(アニール)
| 高温熱処理炉 | |
| MOTOYAMA, SUPERBURN | |
| 汎用熱処理装置 | |
| 光洋サーモシステム, KTF453N | |
| マッフル炉 | |
| YAMATO,FP310 | |
| 雰囲気電気炉 | |
| フルテック, FT-101FM | |
| 雰囲気電気炉 | |
| SHIBATA, GTO-350RD | |
| 高速熱処理装置 | |
| サーモ理工, IVF298W | |
| 卓上型ランプ加熱装置 | |
| アルバック真空理工, MILA-3000 | |
観察装置(顕微鏡)
| 多光子励起蛍光顕微鏡 | |
| NIKON, A1RMP+ | |
| 走査型電子顕微鏡 | |
| JEOL, JSM-5310CE | |
| 走査型プローブ顕微鏡 | |
| SII, S-image | |
| 共焦点顕微鏡 | |
| Lasertec, OPTELICS C130 | |
| 微分干渉顕微鏡 | |
| OLYMPUS, BX51 | |
| 微分干渉顕微鏡 | |
| OLYMPUS, MX61 | |
| 触針段差計 | |
| ULVAC, DEKTAK | |
物性測定系
| マニュアルプローバ | |
| 睦コーポレーション, MMP-ILS-TU3 | |
| フォトルミネッセンス(405 nm励起) | |
| 自作, OU405TT | |
| フォトルミネッセンス(320 nm励起) | |
| 自作, OU320TT | |
| 半導体レーザ評価装置 | |
| 自作 | |
| 引張試験機 | |
| IMADA, MX-5000N-E | |
| Hall測定システム | |
| 東陽テクニカ, ResiTest8300 | |
| 光導波路デバイス測定システム | |
| レーザー科学研究所内 | |
| 低温顕微フォトルミネッセンス | |
| 低温センター内 | |
レーザ関連機器 |
| チタンサファイアレーザ | スペクトラフィジクス | 3900S×2 |
| 超短パルスレーザ | フォトテクニカ | FLINT N800 |
| 超短パルスレーザ | フォトテクニカ | PHAROS 04-200-PP |
| 水冷アルゴンレーザ | スペクトラフィジクス | Stabilite 2016・2017 |
| 空冷アルゴンレーザ | MODU-LASER | Stellar-Pro 488/50 |
| He-Cdレーザ | 金門光波 | IK3501R-G/KR, CD4123R |
| 波長可変半導体レーザ | SDL | SDL-8630, 824×2 |
| Sacher Lesertechnik | TEC320, 300PC | |
| Toptica Photonics | DL100L/DC/DDC/DTC/SC110 | |
| santec | TSL-210×2・TSL-210V | |
| 半導体レーザ | コヒーレント | OBIS405LX |
| DPSSレーザ | LASOS | DLK2020TS |
| MOPA LD | SDL | SDL-5762-A4 |
| DFB LD | ファイバーラボ | DFB-LD-1550-8-AP |
| 高出力固体レーザ | LIGHTWAVE Electronics | 126-1064-700 |
| コヒーレント | Genesis CX355-40 SLM | |
| LDドライバ | 旭データシステムズ | ALP-7033CA×2, 7033CB ALP-7033CC, 7233CA×2 |
| Wavelength Electronics | LFI-3551/4532/4505 | |
| LDコントローラ | ILX Light Wave | LDC-3900 |
| パルスカレントソース | ILX Light Wave | LDP-3811×2 |
| パルスLDドライバ | ILX Light Wave | LDP-3840 |
| カレントソース | ILX Light Wave | LDX-3412 |
| 温度コントローラ | ILX Light Wave | LDT-5910B/5525B×2/5525×2 |
| THORLABS | TC200×2 | |
| ファイバアンプ | IPG LASER | EAD-1K-C-LP, EAP-500 |
| PriTel | PMFA-L-30-IO | |
| Keopsys | KPS-BT2-C-5−PM-LI-FC |
計測関連機器 |
| 単一光子検出器 | ID Quantique | id200×2・id201 |
| Perkin Elmer | SPCM-AQR-14-FC×2 | |
| フェムトワット検出器 | Newport | 2153M-IR |
| 赤外検出器 | Newfocus | 2011×2 |
| 高速バイアス検出器 | THORLABS | DET10A/M×2 |
| パワーメータ | Newort | 1830-C×3・835 |
| THORLABS | PM320E | |
| 赤外ビジコンカメラ | 浜松ホトニクス | C2741-03/C2741×2 |
| 時間差波高変換器/SCA | ORTEC | 567 |
| ナノセカンド遅延器 | ORTEC | 425A |
| 時間間隔アナライザ | 横河電機 | TA720 |
| ボックスカー積分器 | SRS | SR280/250/250/245/200/235 |
| ロックインアンプ | エヌエフ回路設計ブロック | LI5640・LI5630 |
| スペクトラムアナライザ | アンリツ | MS2661A |
| 信号発生器 | アジレントテクノロジー | 8648B |
| アジレントテクノロジー | 33210A | |
| エヌエフ回路設計ブロック | WF1974×2 | |
| 横河電機 | FG110×2・FG120×2 | |
| 電圧増幅器 | Trek | 609E-6 |
| オシロスコープ | テクトロニクス | TDS8000B |
| テクトロニクス | TDS3012×2 | |
| テクトロニクス | TDS2014・TDS2012B | |
| テクトロニクス | TDS2004B×2・TDS2002 | |
| テクトロニクス | TBS2104 | |
| 光スペアナ | アンリツ | MS9030AA+MS9701A1 |
| アンリツ | MS9710B×3 | |
| 横河電機 | AQ6370 | |
| 超高圧水銀ランプ | ウシオ | Optical ModuleX SX-UID 50 |
| 赤外分光光度計 | 島津製作所 | FTIR-8400 |
| 回折格子分光器 | Princeton Instruments | SP2300 |
| Princeton Instruments | IsoPlane 320 | |
| CCD分光器 | オーシャンフォトニクス | USB2000+ |
| USB4000 | ||
| QEPro | ||
| CCD検出器 | Princeton Instruments | PIXIS-100B-LF2-0S |
| DC電源 | アジレントテクノロジー | E3631A×3 |
| ソースメジャーユニット | アドバンテスト | R6243 |
| LCRメータ | アジレントテクノロジー | E4980A |