|ワイドギャップ半導体|強誘電体|量子光学|非線形光学|集積エレクトロニクス|
装置使用をご希望の方はスタッフまでお気軽にご相談ください。
成膜設備(薄膜エピタキシャル成長・蒸着)
有機金属気相成長装置 | |
AIXTRON, CCS 3x2 |

パルススパッタリング装置 | |
ULVAC, MBC-1000S |

パルススパッタリング装置 | |
Eiko, EW-Series |

パルスレーザー堆積装置 | |
PASCAL, PA-C-PLMBE |
反応性スパッタリング装置 | |
PASCAL, PA-SP |
プラズマCVD装置 | |
SAMCO, PD-10 |
RFスパッタリング装置 | |
ANELVA, SPF-210H |
RF/DCスパッタリング装置 | |
ANELVA, SPF-210S-FH |
電子ビーム蒸着装置 | |
ANELVA, L-043E-TN |
抵抗加熱蒸着装置 | |
ANELVA, JEE-450T |
クイックコータ | |
SANYU, SVC-700TM |
プロセス設備(接合・エッチング・デバイス形成)
表面活性化接合装置 | |
アユミ工業, VE-08-07 |

高圧印加装置 | |
Trek, 609E-6など |

反応性イオンエッチング装置 | |
SAMCO, RIE-10N |
ECRイオンシャワー装置 | |
SAMCO, EIS-200ER |
研磨装置 | |
武蔵野電子, MA-200D・MA-150 |
ダイシング装置 | |
DISCO, DAD323 |

ウエハスクライバ | |
0 |
UV・O3ストリッパ | |
SAMCO, UV-1 |
ダイボンダ | |
WEST-BOND, 7327C-79 |
ワイヤボンダ | |
MARPET ENTERPRISES, 1204B |
ドラフトチャンバー(有機用) | |
ヤマト, HITECHOOD, FRS-180 |

ドラフトチャンバー(酸・アルカリ用) | |
ヤマト, HITECHOOD, FRS-180 |

リソグラフィー設備(電子線リソ・フォトリソ)
電子線描画装置 | |
エリオニクス, ELS-3700 |

マスクアライナ | |
ミカサ,MA-10 |
スピンコータ | |
ミカサ,MS-A100・1H-DXII |
コンベクションオーブン | |
YAMATO DX300・Masuda SA312 |
熱処理設備(アニール)
高温熱処理炉 | |
MOTOYAMA, SUPERBURN |
汎用熱処理装置 | |
光洋サーモシステム, KTF453N |

マッフル炉 | |
YAMATO,FP310 |
雰囲気電気炉 | |
フルテック, FT-101FM |
雰囲気電気炉 | |
SHIBATA, GTO-350RD |
高速熱処理装置 | |
サーモ理工, IVF298W |
卓上型ランプ加熱装置 | |
アルバック真空理工, MILA-3000 |
観察装置(顕微鏡)
多光子励起蛍光顕微鏡 | |
NIKON, A1RMP+ |
走査型電子顕微鏡 | |
JEOL, JSM-5310CE |

走査型プローブ顕微鏡 | |
SII, S-image |

共焦点顕微鏡 | |
Lasertec, OPTELICS C130 |
微分干渉顕微鏡 | |
OLYMPUS, BX51 |
微分干渉顕微鏡 | |
OLYMPUS, MX61 |

触針段差計 | |
ULVAC, DEKTAK |
物性測定系
マニュアルプローバ | |
睦コーポレーション, MMP-ILS-TU3 |
フォトルミネッセンス(405 nm励起) | |
自作, OU405TT |

フォトルミネッセンス(320 nm励起) | |
自作, OU320TT |
半導体レーザ評価装置 | |
自作 |

引張試験機 | |
IMADA, MX-5000N-E |

Hall測定システム | |
東陽テクニカ, ResiTest8300 |

光導波路デバイス測定システム | |
レーザー科学研究所内 |

低温顕微フォトルミネッセンス | |
低温センター内 |

レーザ関連機器 |
チタンサファイアレーザ | スペクトラフィジクス | 3900S×2 |
超短パルスレーザ | フォトテクニカ | FLINT N800 |
超短パルスレーザ | フォトテクニカ | PHAROS 04-200-PP |
水冷アルゴンレーザ | スペクトラフィジクス | Stabilite 2016・2017 |
空冷アルゴンレーザ | MODU-LASER | Stellar-Pro 488/50 |
He-Cdレーザ | 金門光波 | IK3501R-G/KR, CD4123R |
波長可変半導体レーザ | SDL | SDL-8630, 824×2 |
Sacher Lesertechnik | TEC320, 300PC | |
Toptica Photonics | DL100L/DC/DDC/DTC/SC110 | |
santec | TSL-210×2・TSL-210V | |
半導体レーザ | コヒーレント | OBIS405LX |
DPSSレーザ | LASOS | DLK2020TS |
MOPA LD | SDL | SDL-5762-A4 |
DFB LD | ファイバーラボ | DFB-LD-1550-8-AP |
高出力固体レーザ | LIGHTWAVE Electronics | 126-1064-700 |
コヒーレント | Genesis CX355-40 SLM | |
LDドライバ | 旭データシステムズ | ALP-7033CA×2, 7033CB ALP-7033CC, 7233CA×2 |
Wavelength Electronics | LFI-3551/4532/4505 | |
LDコントローラ | ILX Light Wave | LDC-3900 |
パルスカレントソース | ILX Light Wave | LDP-3811×2 |
パルスLDドライバ | ILX Light Wave | LDP-3840 |
カレントソース | ILX Light Wave | LDX-3412 |
温度コントローラ | ILX Light Wave | LDT-5910B/5525B×2/5525×2 |
THORLABS | TC200×2 | |
ファイバアンプ | IPG LASER | EAD-1K-C-LP, EAP-500 |
PriTel | PMFA-L-30-IO | |
Keopsys | KPS-BT2-C-5−PM-LI-FC |
計測関連機器 |
単一光子検出器 | ID Quantique | id200×2・id201 |
Perkin Elmer | SPCM-AQR-14-FC×2 | |
フェムトワット検出器 | Newport | 2153M-IR |
赤外検出器 | Newfocus | 2011×2 |
高速バイアス検出器 | THORLABS | DET10A/M×2 |
パワーメータ | Newort | 1830-C×3・835 |
THORLABS | PM320E | |
赤外ビジコンカメラ | 浜松ホトニクス | C2741-03/C2741×2 |
時間差波高変換器/SCA | ORTEC | 567 |
ナノセカンド遅延器 | ORTEC | 425A |
時間間隔アナライザ | 横河電機 | TA720 |
ボックスカー積分器 | SRS | SR280/250/250/245/200/235 |
ロックインアンプ | エヌエフ回路設計ブロック | LI5640・LI5630 |
スペクトラムアナライザ | アンリツ | MS2661A |
信号発生器 | アジレントテクノロジー | 8648B |
アジレントテクノロジー | 33210A | |
エヌエフ回路設計ブロック | WF1974×2 | |
横河電機 | FG110×2・FG120×2 | |
電圧増幅器 | Trek | 609E-6 |
オシロスコープ | テクトロニクス | TDS8000B |
テクトロニクス | TDS3012×2 | |
テクトロニクス | TDS2014・TDS2012B | |
テクトロニクス | TDS2004B×2・TDS2002 | |
テクトロニクス | TBS2104 | |
光スペアナ | アンリツ | MS9030AA+MS9701A1 |
アンリツ | MS9710B×3 | |
横河電機 | AQ6370 | |
超高圧水銀ランプ | ウシオ | Optical ModuleX SX-UID 50 |
赤外分光光度計 | 島津製作所 | FTIR-8400 |
回折格子分光器 | Princeton Instruments | SP2300 |
Princeton Instruments | IsoPlane 320 | |
CCD分光器 | オーシャンフォトニクス | USB2000+ |
USB4000 | ||
QEPro | ||
CCD検出器 | Princeton Instruments | PIXIS-100B-LF2-0S |
DC電源 | アジレントテクノロジー | E3631A×3 |
ソースメジャーユニット | アドバンテスト | R6243 |
LCRメータ | アジレントテクノロジー | E4980A |